Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: eLibro (Miami, Estados Unidos) (-)
Formato: Tesis
Idioma:Castellano
Publicado: La Habana : Editorial Universitaria 2015.
Materias:
Acceso en línea:Acceso restringido con credenciales UPSA
Ver en Biblioteca de la Universidad Pontificia de Salamanca:https://koha.upsa.es/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=765202
Solicitar por préstamo interbibliotecario: Correo | Formulario
Descripción
Notas:Autor/es: Infante Abreu, Marta Beatriz.
Autor/es: Delgado Fernández, Mercedes,
Autor/es: Díaz Batista, Antonio,
Descripción Física:1 recurso en línea, (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
Bibliografía:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671
Acceso:Requiere autenticación con la cuenta del campus virtual UPSA