Degradación y ruptura dieléctrica del SiO2 en estructuras metal-óxido-semiconductor
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis |
| Idioma: | Castellano |
| Publicado: |
Bellaterra :
Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona
1990
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| Colección: | Tesis Doctorals de la Universitat Autonoma de Barcelona
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| Materias: | |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991009978459708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es |
| Descripción Física: | 1 microficha ; 11 x 15 cm + 7 p. ; 18 cm |
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| ISBN: | 9788474886276 |
