A bibliography on methods for the measurement of inhomogeneities in semiconductors (1953-1967)

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Schafft, Harry A. (-), Needham, Susan Gayle (Autor)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Washington, D. C., 1968
Colección:Technical note / National Bureau of Standards ; 445
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991009560329708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

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