Electron microscopy and analysis

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Goodhew, Peter J. (-)
Otros Autores: Humphreys, John, Beanland, R.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: London ; New York : Taylor & Francis cop. 2001
Edición:3rd ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991006854459708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

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