Electron microscopy and analysis

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Goodhew, Peter J. (-)
Otros Autores: Humphreys, John, Beanland, R.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: London ; New York : Taylor & Francis cop. 2001
Edición:3rd ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991006854459708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:x, [2], 251 p. : il. ; 24 cm
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas (p. [236]-237) e índice
ISBN:9780748409686