Accelerated stress testing handbook guide for achieving quality products

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Chang, Anthony H. (-), Englert, Paul J.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : IEEE Press c2001.
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991002701319708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:xxii, 372 p. : il. ; 26 cm
ISBN:9780780360259