Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fultz, B. (-)
Otros Autores: Howe, James
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin : Springer 2001
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991002591129708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:748 p. ; 24 cm With 423 Figures and Numerous Exercises
ISBN:9783540678410