Materials Reliability in Microelectronics VII Symposium held March 31-April 3, 1997, San Francisco, California, U.S.A

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Materials Research Society (-)
Otros Autores: Clement, J. Joseph (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Pittsburgh : Materials Research Society c1997.
Colección:Materials Research Society symposium proceedings ; v. 473
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991002387589708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:xv, 457 p. : il. ; 24 cm
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índices
ISBN:9781558993778