Measurement techniques for thin films

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schwartz, Bertram (-)
Otros Autores: Schwartz, Newton
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Electrochemical Society 1967
Edición:1a ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001983969708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:364 p.