Microelectronic reliability. Vol.: II integrity assessment and assurance

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Pollino, Emiliano (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Boston : Artech House Books 1989
Edición:1a ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001552199708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Descripción Física:537 p.
ISBN:9780890063507