Espectroscopía Óptica de la Admitancia : Caracterización del Au en Si y del EL2 en GaAs

Espectroscopía Óptica de la Admitancia Caracterización del Au en Si y del EL2 en GaAs

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Dueñas Carazo, Salvador (-)
Autor Corporativo: Universidad de Valladolid. Facultad de Ciencias. Departamento de Electricidad y Electrónica (-)
Otros Autores: Barbolla Sancho, Juan, dir (Conductor)
Formato: Tesis
Idioma:Castellano
Publicado: Valladolid : Universidad de Valladolid,Secretariado de Publicaciones e Intercambio Científico 1995.
Materias:
Electrónica > Tesis.
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001401249708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Notas:Reducción: 1:24.
Descripción Física:3 microfichas : negativo ; 11x15 cm + 1 carpetilla
ISBN:9788477625155

Ejemplares similares