Physical measurement and analysis of thin films

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Murt, E.M (-)
Otros Autores:	Guldner, W.G
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	New York : Plenum Publishing Corporation 1969
Edición:	1a ed
Materias:	Física > Estado sólido
Ver en Universidad de Navarra:	https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001236399708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

Descripción
Descripción Física:	194 p.

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