IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence

Detalles Bibliográficos
Formato: Seriadas
Idioma:Inglés
Publicado: New York (USA) : IEEE 1993
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991000935059708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es
Descripción
Notas:Vols.: 15 al 32
ISSN:01628828