Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos

Bibliographic Details
Main Author: Infante Abreu, Marta Beatriz (-)
Other Authors: Delgado Fernández, Mercedes, tutor (tutor), Díaz Batista, Antonio, tutor
Format: Thesis
Language:Castellano
Published: La Habana : Editorial Universitaria 2015.
Subjects:
Online Access:https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=90796
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Description
Physical Description:1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
Bibliography:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671