Computer-assisted microscopy the measurement and analysis of images
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Idioma: | Inglés |
Publicado: |
New York [etc.] :
Plenum
1992.
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Materias: | |
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Notas: | Indice |
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Descripción Física: | xii, 453 p. : il. ; 26 cm |
Bibliografía: | Bibliografía |
ISBN: | 9780306434105 |