Digital systems testing and testable design

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Abramovici, Miron (-)
Otros Autores: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur D.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : IEEE 1990.
Edición:Rev. printing
Materias:
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Descripción
Notas:"This is the IEEE revised printing of the book previously published by W. H. Freeman and Company in 1990 under the title Digital systems testing and testable design"--verso.
Indice.
Descripción Física:xviii, 652 p. : il. ; 25 cm
Bibliografía:Bibliografía.
ISBN:9780780310629