Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis |
| Idioma: | Castellano |
| Publicado: |
La Habana :
Editorial Universitaria
2015.
|
| Materias: | |
| Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009856362406719 |
| Descripción Física: | 1 online resource (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas |
|---|---|
| Bibliografía: | Contiene bibliografía. |
| ISBN: | 9789591628671 |
