Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Bitsua, 4 (1)

Detalles Bibliográficos
Formato: Libro electrónico
Idioma:Inglés
Publicado: D - Universidad de Pamplona
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009854258506719
Descripción
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