2022 IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST)

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Institute of Electrical and Electronics Engineers (author)
Autor Corporativo: Institute of Electrical and Electronics Engineers, author, issuing body (author)
Formato: Libro electrónico
Idioma:Inglés
Publicado: Piscataway, NJ : IEEE 2022.
Colección:ACM Conferences
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009714632106719
Descripción
Descripción Física:1 online resource (xi, 171 pages) : illustrations (some color)
ISBN:9781450392860