Unified methods for VLSI simulation and test generation
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers
cop. 1989
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| Colección: | Kluwer international series in engineering and computer science ;
SECS73 |
| Materias: | |
| Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991007605109706719 |
| Notas: | At head of title: AT&T |
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| Descripción Física: | xii, 148 p. : ill. ; 24 cm |
| Bibliografía: | Bibliografia: p. [113]-143 Inclou índex |
| ISBN: | 9780792390251 |
