Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Métodos por espectrometría de rayos X. (ISO 3497:2000)
| Main Author: | |
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| Format: | Book |
| Language: | Castellano |
| Published: |
Madrid :
AENOR
2001
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| Subjects: | |
| See on Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991006994719706719 |
| Item Description: | Norma equivalent a: EN ISO 3497:2000, ISO 3497:2000 |
|---|---|
| Physical Description: | 26 p. ; 30 cm |
