Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Métodos por espectrometría de rayos X. (ISO 3497:2000)
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Idioma: | Castellano |
Publicado: |
Madrid :
AENOR
2001
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Materias: | |
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991006994719706719 |
Notas: | Norma equivalent a: EN ISO 3497:2000, ISO 3497:2000 |
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Descripción Física: | 26 p. ; 30 cm |