Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Goldstein, Joseph, 1939- (-)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	New York [etc.] : Springer 2003
Edición:	3rd ed
Materias:	Microscopis electrònics Microscòpia electrònica d'escombratge Microscopis de raigs X Microscòpia electrònica de rastreig Raigs X, Microanàlisi per
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:	https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991006887659706719

Descripción
Descripción Física:	XIX, 689 p. : il., gràf.; 26 cm + 1 disc òptic (CD-ROM)
Bibliografía:	Referències bibliogràfiques. Índex
ISBN:	9780306472923

Ejemplares similares