Tests númericos [TN] : manual técnico y de aplicación con programa de desarrollo numérico

Bibliographic Details
Main Author: Riart i Vendrell, Joan (-)
Other Authors: Baqués i Trenchs, Marian, Virgili Tejedor, Carles
Format: Book
Language:Castellano
Published: Madrid : CEPE 2010
Series:Colección Instrumentos de evaluación ; 30
Subjects:
See on Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991004247969706719
Description
Item Description:Bibliografia
Physical Description:92 p. : taules, 30 cm
ISBN:9788478697328