Logic Testing and design for testability

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fujiwara, Hideo (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Cambridge [etc.] : MIT press 1986
Edición:2nd printing
Colección:Computer systems series
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991001613029706719
Descripción
Descripción Física:X, 284 p. ; 24 cm
ISBN:9780262060967