Test driven development for Embedded C

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Grenning, James W. (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Raleigh, NC : Pragmatic Bookshelf 2011.
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991008486909708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

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