Applied logistic regression

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W. (-)
Otros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Wiley c2000.
Edición:2nd ed
Colección:Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001551439708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

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