Semiconductor measurements and instrumentation

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Runyan, W.R (-)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	New York : Mcgraw-Hill de España, S.A 1975
Edición:	1a ed
Materias:	Electrónica > Microelectrónica
Ver en Universidad de Navarra:	https://unika.unav.edu/discovery/fulldisplay?docid=alma991001390399708016&context=L&vid=34UNAV_INST:VU1&search_scope=34UNAV_TODO&tab=34UNAV_TODO&lang=es

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