Nafría i Maqueda, M. (1993). Anàlisi de la ruptura dielèctrica del SiO2 per a la simulació de fiabilitat. Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona.
Cita Chicago Style (17a ed.)Nafría i Maqueda, Montserrat. Anàlisi De La Ruptura Dielèctrica Del SiO2 Per a La Simulació De Fiabilitat. Bellaterra: Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona, 1993.
Cita MLA (9a ed.)Nafría i Maqueda, Montserrat. Anàlisi De La Ruptura Dielèctrica Del SiO2 Per a La Simulació De Fiabilitat. Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona, 1993.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.