Infante Abreu, M. B., Delgado Fernández, M., & Díaz Batista, A. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. Editorial Universitaria.
Cita Chicago Style (17a ed.)Infante Abreu, Marta Beatriz, Mercedes Delgado Fernández, y Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
Cita MLA (9a ed.)Infante Abreu, Marta Beatriz, et al. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. Editorial Universitaria, 2015.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.