Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Martín Alfonso, Juan Antonio (-)
Autor Corporativo: e-libro, Corp (-)
Otros Autores: Sánchez Colina, María, tut (tut), García Reina, Francisco, tut
Formato: Libro electrónico
Idioma:Castellano
Publicado: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria 2007.
Materias:
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