Cita APA (7a ed.)

Rueda P., J. E., & Lasprilla, M. C. (2006). Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Universidad de Pamplona.

Cita Chicago Style (17a ed.)

Rueda P., J. E., y M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Pamplona, Colombia: Universidad de Pamplona, 2006.

Cita MLA (9a ed.)

Rueda P., J. E., y M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Universidad de Pamplona, 2006.