Applied Logistic Regression

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W (-)
Otros Autores: Sturdivant, Rodney X., Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York Wiley 2013
Edición:3rd ed
Colección:Wiley series in probability and statistics. Texts and reference section
Materias:
Ver en Universidad Loyola - Universidad Loyola Granada:https://colectivo.uloyola.es/Record/94953
Solicitar por préstamo interbibliotecario: Correo
Descripción
Descripción Física:XVI, 500 p. ; 24 cm
ISBN:9780470582473