Metric culture : ontologies of self-tracking practices

Metric culture ontologies of self-tracking practices

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Ajana, Bithaj (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Bingley [etc.] : Emerald 2018.
Edición:1st ed
Materias:
Innovaciones tecnológicas > aspectos sociales > congresos y asambleas.
Tecnología y civilización > congresos y asambleas.
Hombre y máquinas > congresos y asambleas.
Ver en Universidad de Deusto:https://oceano.biblioteca.deusto.es/primo-explore/search?query=any,contains,991006349884203351&tab=default_tab&search_scope=deusto_alma&vid=deusto
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