Metric culture ontologies of self-tracking practices

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Ajana, Bithaj (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Bingley [etc.] : Emerald 2018.
Edición:1st ed
Materias:
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Descripción
Notas:Conference "Metric culture: the quantified self and beyond", organised in June 2017 at the Aarhus Institute of Advanced Studies in Denmark.
Descripción Física:XIX, 264 p. ; 24 cm
Bibliografía:Bibliogr. Índice.
ISBN:9781787432901