Deterioro por corrosión atmosférica de componentes electrónicos de equipo telefónico
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Castellano |
| Publicado: |
México, D.F. :
Red Ingeniería. Investigación y Tecnología
2006.
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| Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009858213506719 |
Tabla de Contenidos:
- Deterioro por corrosión atmosférica de componentes electrónicos de equipo telefónico
- Resumen
- Introducción
- Metodología para el análisis deldeterioro
- Procedimiento para la elaboraciónde los mapas de deterioro
- Resultados del análisis del deterioro observado en tarjetas y dispositivos electrónicos
- Resultados de la inspección de las tarjetas electrónicas
- Análisis de las muestras provenientes de Tampico
- Análisis de las muestras provenientes del área metropolitana de la Ciudad de México
- Análisis de las muestras provenientes de la Región Oaxtepec-Cocoyoc
- Análisis de las muestras provenientes de Coatzacoalcos, Veracruz
- Análisis de muestras provenientes de Bahía de Banderas (Puerto Vallarta)
- Análisis de muestras provenientes de Cuernavaca, Morelos
- Discusión
- Conclusiones
- Agradecimientos
- Referencias
- Semblanza de los autores
- Figura 1
- Figura 2
- Figura 3
- Figura 4
- Figura 5
- Figura 6
- Figura 7
- Figura 8
- Figura 9
- Figura 10
- Figura 11
- Figura 12
- Figura 13
- Figura 14
- Figura 15
- Figura 16
- Figura 17
- Figura 18
- Figura 19
- Figura 20
- Figura 21
- Figura 22
- Figura 23
- Figura 24
- Figura 25
- Tabla 1
- Tabla 2.
