Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN
En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Castellano |
| Publicado: |
Ciudad de la Habana :
Editorial Universitaria
2007.
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| Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009856857606719 |
