Estudios de defectos planares en aleaciones intermetalicas y tierras raras con estructura cristalina de capas y su correlacion con propiedades magneticas
La tesis se enmarca en una de las problematicas actuales de la ciencia de materiales: la implementacion de modelos que permitan determinar las caracteristicas microestructurales de un material y relacionarlas con sus propiedades. Los defectos cristalinos afectan las propiedades de un material. Los m...
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Otros Autores: | |
Formato: | Libro electrónico |
Idioma: | Castellano |
Publicado: |
Ciudad de la Habana :
Editorial Universitaria
2006.
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Tabla de Contenidos:
- Estudios de defectos planares en aleaciones intermetálicas (...); Portada; Página Legal; Síntesis; Índice; Introducción; Capítulo I. Diagrama de fase y análisis cristalográfico de imanes permanentes del tipo SMCO 1:5 y 2:17; 1.1. Análisis del diagrama de fase.; 1.2. Análisis cristalográfico de los compuestos TR - Co.; 1.2.1. Estabilidad de las fases romboédrica y hexagonal del compuesto TR2Co17.; 1.3. Defectos estructurales planares; Capítulo 2. Solución directa de la difracción de un cristal de capas con defectos de apilado; 2.1. Estado del Arte.; 2.2. Difracción en una estructura de capas
- 2.2.1. Los coeficientes de Fourier2.2.2 La influencia del desorden de capas en el perfil de los picos y su...; 2.3. Conclusiones parciales; Capítulo 3. Implicaciones de la naturaleza y la densidad de defectos planares en el uso de una función analítica específica para el ajuste de máximos de difracción; 3.1. Separación de la función de interferencia en su componente simétrica y; 3.2. Perfiles analíticos; 3.2.1. Perfil Gaussiano; 3.2.2. Perfil Lorentziano (Cauchy); 3.2.3. Perfil Pseudo Voigt; 3.2.4. Perfil Pearson VII; 3.3. Perfil simétrico de la función de decaimiento exponencial
- 3.4. Aplicación de las funciones analíticas a perfiles experimentales3.5. Conclusiones parciales; Capítulo 4. Aplicación al sistema TR2CO17 del formalismo de solución directa de un patrón de difracción de una estructura planar con defectos de apilado; 4.1. Materiales y métodos.; 4.1.1 Preparación de las muestras; 4.1.2. Método de caracterización por difracción de rayos - X.; 4.2. Resultados de la caracterización estructural por difracción de rayos - X.; 4.2.1 Ajustes de perfiles afectados por defectos planares.; 4.2.2. Determinación de los parámetros de la red.
- 4.2.3. Determinación de parámetros no estructurales.4.2.4. Distribución de intensidades en el espacio recíproco y resultados de los...; 4.3 Discusión de los resultados.; 4.4 Conclusiones parciales.; Capítulo 5. Correlación entre el comportamiento magnético del sistema sm(co,cu)5 y sus características estructurales y microestructurales; 5.1. Materiales y métodos.; 5.1.1. Preparación de las muestras.; 5.1.2. Método de caracterización por difracción de rayos - X; 5.1.3. Técnicas por microscopía óptica, metalográfica y electrónica de transmisión; 5.1.4. Mediciones magnéticas.
- 5.2. Resultados de la caracterización del compuesto Sm(Co1-xCux)5, (x = 0.3, 0.45.2.1. Caracterización microestructural.; 5.2.2. Caracterización estructural; 5.3. Caracterización del compuesto Sm(Co0.6Cu0.4)5 con 2, 5 y 7 % en peso de...; 5.3.1. Caracterización estructural; 5.3.2. Caracterización magnética; 5.4. Discusión de los resultados; 5.4.1. Sistema Sm(Co1-x,Cux)5, x = 0.3, 0.4, 0.5; 5.4.2. Sistema SmCo3Cu2 con 2, 5 y 7 % en peso de exceso de Sm; 5.5. Conclusiones parciales; Conclusiones generales; Recomendaciones; Referencias bibliográficas