Digital systems testing and testable design

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Abramovici, Miron (-)
Otros Autores: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur D.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Computer Science Press cop. 1990
Colección:Electrical engineering, communications and signal processing
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991004503629706719

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