Tura, J. M., Rodés, J., & Traveria i Cros, A. (1989). Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD i XRf) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl·liques en patologia humana. Institut d'Estudis Catalans.
Chicago Style (17th ed.) CitationTura, Josep M., J. Rodés, and Adolf Traveria i Cros. Estudi Per Tècniques Físiques D'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD I XRf) De Microcristalls Exògens I Endògens I De Traces Metàl·liques En Patologia Humana. Barcelona: Institut d'Estudis Catalans, 1989.
MLA (9th ed.) CitationTura, Josep M., et al. Estudi Per Tècniques Físiques D'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD I XRf) De Microcristalls Exògens I Endògens I De Traces Metàl·liques En Patologia Humana. Institut d'Estudis Catalans, 1989.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.