Markov random field modeling in image analysis

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Li, S. Z. (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Tokyo [etc.] : Springer cop. 2009
Edición:3rd ed
Colección:Advances in pattern recognition
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991001746179706719
Descripción
Descripción Física:XVI, 357 p. : il. ; 24 cm
Bibliografía:Bibliografia. Índex
ISBN:9781848002784