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    Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
    por Infante Abreu, Marta Beatriz
    Publicado 2015
    Otros Autores: “…Infante Abreu, Marta Beatriz…”
    Universidad Loyola - Universidad Loyola Granada (Otras Fuentes: Biblioteca Universitat Ramon Llull, Biblioteca de la Universidad Pontificia de Salamanca)
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