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    Contribución al estudio de los centros profundos en dispositivos de potencia de silicio por técnicas termo-capacitivas
    Otros Autores: “…Barbolla Sancho, Juan…”
    Tesis
  2. 2
    Espectroscopía Óptica de la Admitancia : Caracterización del Au en Si y del EL2 en GaAs
    por Dueñas Carazo, Salvador
    Publicado 1995
    Otros Autores:
    Tesis

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